U-SMPS 1700    掃描電遷移率粒徑譜儀    德國Palas（帕剌斯）中國綜合服務商-北京恒捷利達科技有限公司
       通用掃描遷移率粒度儀，適用于 2 – 400 nm 的高濃度

應用領域：
過濾器測試
氣溶膠研究
吸入實驗
工作場所測量

優點：

產品規格：

產品說明：

    適用于高氣溶膠濃度的Palas?通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱（1700型），特別適合2-400 nm范圍內的極高精度粒度分布測量。Palas?U-SMPS系統包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme?氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。

氣溶膠靜電計的一個主要優點是可以進行非常快速的測量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發生器的下游）。可以通過物理參數直接追溯每時間單位（流量）的電荷測量值。其結果是，此方法主要用作凝結粒子計數器（例如UF-CPC）校準期間的參考。

U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內執行單粒子分布掃描，或者在多達128個尺寸通道中執行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估（豐富的統計和平均值計算）和導出功能。

U-SMPS通常作為獨立設備運行，但也可以使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接到計算機或網絡。 Palas?U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計。

U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要，特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并在內部組裝。